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BGA测试仪

2020-06-30 05:21:01  842次浏览 次浏览
价 格:50000

目前IC使用率增长随之不良率及反修率也越来越高,PTI818 BGA测试仪可以测试IC各脚之间开短路,对GND和VCC的clamp diode, 对地及相关脚的电阻及电容,对IC上电,量测关键点的电压等手段检测出不良IC,并能对不良情况进行统计,以便做分析并查找对策。此方式对IC可测率达到98%以上。将是IC测试的实惠快速测试的变革,为BGA封装不良返修测试提供行之有效测试解决方案。

详细介绍:

产品特点:

§ 模块化设计,为扩展多种功能提供了测试平台。

§ 丰富的测试信号源及Reed Relay Switching Board,大大的保证了稳定性和测试覆盖率。

§ 测试程序全部自动生成并ATPD(Auto Test Program Debug)。

§ Board View功能可即时显示不良脚位,针点位置,方便检修。

§ 完整丰富的测试统计资料及报表,且自动储存,不因断电而遗失数据。

§ PTI818 BGA测试仪系统具自我诊断功能及远端监控和遥控功能。

§ 支持GPIB外围设备扩展功能。

测试项目:

 封装与晶圆锡球接点的开短路测试。

 IC内部的开短路测试。

 IC 内的保护二极体测试。

 Pin to Pin 、Pin to GND 、Pin to VCC阻抗比对测试。

 Pin to Pin 、pin to GND 、Pin to VCC电容比对测试。

 IC载板上元器件值的测试 。

 对IC上电,测试关键点的电压,来检测内部功能。

 通用GPIB扩展来量测IC关键点波形,频率等参数。

系统规格

测试点数:

标准配备:320点

大型主机:可以扩充至4096点

测试项目:

测试步骤:300000setp

测试时间:

开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)

测试范围:

电阻: 0.01Ω至40MΩ

电容:0.1pF至10000uF

电感: 1.0uH至60H

二极管/三极管:0.1至9.99V

Zener Diode:标准0.1V至50.0V

功能测试: 0.00V至50V

软体系统: "支持winxp,win2003,winvisat/多语言"

应用领域:

一,IC品质不高的来料检查,查出率在99.5%以上,且速度快。

二,大批量返修IC的检测。

三,不良IC的故障原因的查找及统计,以便改进设计。

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